尹春燕

尹春燕，1978年4月生，博士，东南大学MEMS教育部重点实验室副教授。本科、硕士毕业于哈尔滨工业大学，博士毕业于英国格林威治大学。2001年10月至2002年8月任香港城市大学研究助理，2007年1月至2019年8月先后任英国格林威治大学研究员、讲师，2019年10月至今任职于东南大学。其研究方向涵盖高可靠性应用领域电子封装材料与可靠性、基于失效物理的可靠性分析建模、电子系统故障预测和健康管理，在微电子器件和系统可靠性分析预测领域具备丰富科研教学经验，尤其在航空航天、能源等高可靠应用领域电子器件可靠性分析方面实践经验丰富，擅长使用有限元分析、优化计算、统计学分析等方法解决工业实际问题。累计发表学术论文40余篇，其中SCI/EI收录30余篇，第一作者17篇，曾受邀在国际电子封装会议做分会场特邀报告，担任国际电子系统集成会议分会场主席。教学方面，为本科生讲授《电子器件可靠性理论基础及应用》，为研究生讲授全英文课程《电子封装可靠性及优化》，具备丰富的中英文授课经验。