王磊
导师档案总览
基本信息
研究方向
MEMS传感器（消费电子、汽车电子、工业电子、技装应用）可靠性
可靠性试验装置搭建与数据分析
器件可靠性加固技术研究（温度加固、电磁加固）
器件可靠性研究（失效机理、失效模式、加速因子确定、加速试验方法、可靠性评估）
失效机理理论及仿真（第一性原理、分子动力学、有限元、跨尺度）
强电场环境下可靠性设计与防护
新型传感器（如量子电流传感器）可靠性
第三代半导体功率器件（如SiC）可靠性
高温差温控装置搭建与应用
个人简介
王磊，男，1982年12月出生，博士，现任东南大学微电子学与固体电子学系副教授、副研究员、高级工程师。2004年于东南大学获电子科学与技术专业工学学士学位，2012年于东南大学获微电子学与固体电子学专业工学博士学位。自2011年起在东南大学电子科学与工程学院任教（2023年随学院调整至集成电路学院后同年申请调回原单位）。长期专注于MEMS等微电子器件的可靠性研究工作，在器件失效机理、失效模式分析、加速试验方法、可靠性评估以及温度与电磁加固技术等领域具有深厚积累。作为负责人或主要参与者，承担了包括国家重大专项、国家重点研发计划、国家自然科学基金、技术装备项目及国内头部企业横向课题在内的近20项科研项目，研究成果广泛应用于消费电子、汽车电子、工业电子及技术装备等多个行业。在标准化建设方面，主持制定了中国国家标准《微机电系统（MEMS）技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法》（GB/T 38341-2019）。科研贡献获得多项国家级和省部级荣誉，包括参与获得国家科技进步二等奖“高性能MEMS器件设计与制造关键技术及应用”、江苏省科学技术二等奖“高可靠性MEMS压力传感器设计与制造关键技术及应用”以及中国机械工业科学技术奖一等奖“气象传感器设计理论，关键技术及其应用”。目前主要研究方向涵盖传统及新型MEMS传感器、第三代半导体功率器件（如碳化硅）的可靠性理论与技术，并带领可靠性团队开展相关基础与应用研究。
资料摘录
暂无可展示的学位或研究成果数据
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